| 发布日期:2025-09-12 09:06 点击次数:78 |
氟离子注入技术成关键,击穿电压飙升125%
华为与山东大学近日联合发布全球首个1200V全垂直硅基氮化镓(GaN)功率MOSFET,击穿电压高达1277V,比传统结构提升125%。 这项突破的核心是一种名为氟离子注入终端(FIT)的新技术,它取代了沿用数十年的台面刻蚀终端(MET),彻底解决了高压电场在芯片边缘聚集导致器件提前失效的行业难题。
传统垂直GaN器件依赖昂贵的氮化镓衬底,一片2英寸GaN晶圆价格高达1.5万元,而华为方案采用8英寸硅衬底,成本仅需300元。 通过独创的AlGaN/AlN多层导电缓冲层,团队在硅片上生长出7微米厚的高质量GaN漂移层,位错密度低至每平方厘米1.4亿个,接近GaN衬底水平。 更薄的漂移层设计(比GaN衬底方案薄30%)进一步压缩了成本。
性能碾压:导通电阻低至5.6mΩ·cm²,实测数据显示,这款FIT-MOS器件展现出全面领先的特性:阈值电压3.3V,确保安全可靠的增强型工作模式;开关电流比达到千万级(10^7),信号控制精准度跃升;导通电流密度飙升至8kA/cm²,功率密度超传统方案十倍;比导通电阻仅5.6mΩ·cm²,巴利加优值(BFOM)高达291MW/cm²,与万元级GaN衬底器件持平。
横向GaN器件电流在芯片表面横向流动,如同车辆在环岛绕行,路径长、损耗大。而垂直GaN的电流从顶部源极直通底部漏极,好比高速电梯直达。 这种结构带来三重颠覆:耐压能力由漂移层厚度决定,无需增大芯片面积即可突破千伏大关;热量通过垂直通道高效导出,散热性能提升五倍;寄生电容减少40%,开关速度突破MHz限制。
广东致能半导体在第十五届国际氮化物半导体会议(ICNS-15)上,全球首次展示硅基垂直GaN/AlGaN异质结构。 其创新点在于:直接在硅衬底上外延生长出垂直二维电子气沟道(2DEG),电子迁移率提升三倍;采用鳍状氮化镓结构,突破外延层位错密度瓶颈;通过完全去除硅衬底工艺,实现全垂直电极布局,散热效率再跃升30%。
2024年5月,Power Integrations火速收购垂直GaN企业Odyssey,后者已量产650V/1200V器件,导通电阻仅为碳化硅的十分之一。 2025年1月,安森美斥资2000万美元吞并NexGen Power工厂,其与通用汽车合作的GaN主驱项目获美国能源部重点资助。 日本信越化学则押注衬底剥离技术,用晶体膜键合(CFB)工艺将材料成本砍掉90%。
蓝宝石衬底异军突起,1200V器件量产破局,英诺赛科、致能半导体等中国企业另辟蹊径,在蓝宝石衬底上实现1200V GaN器件突破。 蓝宝石的热膨胀系数与GaN更匹配,大幅降低外延应力缺陷。 2025年8月深圳行业论坛披露:英诺赛科1400V p-GaN器件已进入机器人关节驱动系统,镓宏半导体1800V器件通过车规验证。
华为团队在实验中观测到氟离子通过Ga空位向表面逃逸的现象,这曾是导致器件性能退化的致命伤。 通过优化三能级注入工艺(80/140/240keV)与退火程序,在850℃氮气环境中激活埋藏p-GaN层,再经85℃四甲基氢氧化铵(TMAH)溶液修复刻蚀损伤,最终将关态漏电流压制在微安级。
传统MET结构在400V电压下,台面拐角处电场强度骤升至2.7MV/cm,形成红色危险区;FIT-MOS在1200V高压下,终端电场分布均匀,峰值电场下降60%;唯一残余风险在沟槽栅底部,可通过集成屏蔽结构进一步优化。
Elmo公司2025年8月推出钛合金封装双轴GaN伺服驱动器,连续功率2.4kW。 国内企业英诺赛科已向两家机器人公司交付GaN驱动芯片,进入小批量生产阶段。 行业预测:2030年全球人形机器人GaN器件市场规模将达0.89亿美元,五年增长率超700%。
广东致能围绕垂直2DEG沟道技术,在全球布局核心专利组合。 华为FIT终端结构已申请多国发明专利。专利分析显示:2023年至今,中国企业在垂直GaN领域的专利申请量年增67%,覆盖外延生长、电极互联、热管理三大模块。
华为采用住友Eaton Nova的NV-GSD-HE离子注入机实现氟离子精确掺杂,原子层沉积(ALD)设备堆叠100nm二氧化硅栅介质。 中国电科旗下仪器公司已攻克8英寸GaN外延设备,中微公司反应离子刻蚀机进入致能半导体产线。
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